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    掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡SPM-Nanoa

    掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡

    性能特點(diǎn):

    自動觀察
    自動完成光路調(diào)整、掃描參數(shù)設(shè)定、圖像處理

    使用標(biāo)準(zhǔn)樣品和標(biāo)準(zhǔn)探針時操作用時5分鐘*

    *自動觀察模式,掃描范圍1um× 1um ,256×256點(diǎn)陣。操作時長依賴于操作者。

     
    傳統(tǒng)的原子力顯微鏡需要人工調(diào)整光路、設(shè)定掃描參數(shù)、進(jìn)行圖像處理。但是SPM-Nanoa可以幫助用戶毫無壓力地完成這些操作。 
     
     
     

     
     

    性能優(yōu)異
    從光學(xué)顯微鏡到SPM/AFM,各模式下均可清晰地捕捉圖像

    利用光學(xué)顯微鏡搜索目標(biāo)區(qū)域,利用SPM可以方便地進(jìn)行高分辨率觀察。利用與表面形狀圖像相同的視場可以獲得其他物理特性信息。

    樣品:硅基底上的二氧化硅圖案 

     
     
     

    豐富多樣的掃描模式

    從形貌觀察到基于力曲線測量的物性分析,支持廣泛的掃描模式。這意味著可以兼顧高分辨率與物性測試。 

    形貌接觸模式、動態(tài)模式
    機(jī)械性能相位模式、側(cè)向力模式、力調(diào)制模式、Nano 3D Mapping Fast *
    電磁學(xué)電流模式* 、磁力模式* 、表面電勢模式* 、壓電力模式* 、STM *
    納米加工矢量掃描模式*
    環(huán)境支持液體環(huán)境*
     

    搜尋目標(biāo)區(qū)域更容易

    利用清晰地光學(xué)顯微鏡圖像,可以輕松找到目標(biāo)區(qū)域,不用擔(dān)心振動的影響。

    SPM-Nanoa集成了一體式高性能光學(xué)顯微鏡。

     

    樣品視野

     

    使用集成光學(xué)顯微鏡,樣品表面的3um間隔圖案清晰可見。

     
     

    高分辨觀察表面物性

    極軟樣品的變形或樣品局部的機(jī)械及電氣性能的差異,都可以獲得高分辨率的觀測圖像。

    用表面電勢模式觀察云母基底上的金納米顆粒

     
    該圖顯示了0.2um范圍內(nèi)的表面電勢(右)和形貌圖像(左)
     
     

    8K成像助力大范圍高分辨掃描

    可支持8K(81929192)掃描點(diǎn)陣,大范圍區(qū)域的小細(xì)節(jié)也纖毫畢現(xiàn)。

    觀察金屬蒸鍍膜

     
     
     
     

    省時高效

    支持功能功能模式高速觀察

    通過高速觀察和物性高速成譜功能,顯著減少了觀測時間。

    探針更換工具和樣品更換機(jī)構(gòu)有效縮短了掃描準(zhǔn)備時間。

    三個獨(dú)特設(shè)計極大縮短了觀測時間。 
     
     

    高通量觀測
    高速物性成譜

    簡便順滑地樣品更換

    便捷更換探針

     
     
     
     

    高通量觀測
    高速物性成譜

    采用了可實(shí)現(xiàn)高速響應(yīng)的HT掃描器并優(yōu)化了控制算法,從而大幅縮短了觀察和物性成像的數(shù)據(jù)獲取時間

    簡便順滑地樣品更換
    高速物性成譜

    一鍵式操作實(shí)現(xiàn)自動開啟、關(guān)閉平臺,放置和取出樣品。
    由于固定了激光的照射位置,所以在樣品更換后可立即進(jìn)行觀察。

     

     
     

    探針更換簡單且可靠   

    僅需將探針放置在指定的位置,并使其沿著導(dǎo)軌滑動即可安裝,即使操作人員不習(xí)慣使用鑷子,也能夠簡單準(zhǔn)確地進(jìn)行操作。

     


     

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