掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡SPM-Nanoa
掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡
性能特點(diǎn):
自動觀察
自動完成光路調(diào)整、掃描參數(shù)設(shè)定、圖像處理
使用標(biāo)準(zhǔn)樣品和標(biāo)準(zhǔn)探針時操作用時5分鐘*
*自動觀察模式,掃描范圍1um× 1um ,256×256點(diǎn)陣。操作時長依賴于操作者。

傳統(tǒng)的原子力顯微鏡需要人工調(diào)整光路、設(shè)定掃描參數(shù)、進(jìn)行圖像處理。但是SPM-Nanoa可以幫助用戶毫無壓力地完成這些操作。





利用光學(xué)顯微鏡搜索目標(biāo)區(qū)域,利用SPM可以方便地進(jìn)行高分辨率觀察。利用與表面形狀圖像相同的視場可以獲得其他物理特性信息。
樣品:硅基底上的二氧化硅圖案
豐富多樣的掃描模式
從形貌觀察到基于力曲線測量的物性分析,支持廣泛的掃描模式。這意味著可以兼顧高分辨率與物性測試。
| 形貌 | 接觸模式、動態(tài)模式 |
|---|---|
| 機(jī)械性能 | 相位模式、側(cè)向力模式、力調(diào)制模式、Nano 3D Mapping Fast * |
| 電磁學(xué) | 電流模式* 、磁力模式* 、表面電勢模式* 、壓電力模式* 、STM * |
| 納米加工 | 矢量掃描模式* |
| 環(huán)境支持 | 液體環(huán)境* |
搜尋目標(biāo)區(qū)域更容易
利用清晰地光學(xué)顯微鏡圖像,可以輕松找到目標(biāo)區(qū)域,不用擔(dān)心振動的影響。
SPM-Nanoa集成了一體式高性能光學(xué)顯微鏡。
樣品視野
使用集成光學(xué)顯微鏡,樣品表面的3um間隔圖案清晰可見。
高分辨觀察表面物性
極軟樣品的變形或樣品局部的機(jī)械及電氣性能的差異,都可以獲得高分辨率的觀測圖像。
用表面電勢模式觀察云母基底上的金納米顆粒
該圖顯示了0.2um范圍內(nèi)的表面電勢(右)和形貌圖像(左)
8K成像助力大范圍高分辨掃描
可支持8K(81929192)掃描點(diǎn)陣,大范圍區(qū)域的小細(xì)節(jié)也纖毫畢現(xiàn)。
觀察金屬蒸鍍膜
省時高效
支持功能功能模式高速觀察
通過高速觀察和物性高速成譜功能,顯著減少了觀測時間。
探針更換工具和樣品更換機(jī)構(gòu)有效縮短了掃描準(zhǔn)備時間。
三個獨(dú)特設(shè)計極大縮短了觀測時間。


簡便順滑地樣品更換
高速物性成譜
一鍵式操作實(shí)現(xiàn)自動開啟、關(guān)閉平臺,放置和取出樣品。
由于固定了激光的照射位置,所以在樣品更換后可立即進(jìn)行觀察。













