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掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡SPM-Nanoa

掃描探針顯微鏡/原子力顯微鏡

性能特點：

自動觀察
自動完成光路調(diào)整、掃描參數(shù)設(shè)定、圖像處理

使用標準樣品和標準探針時操作用時5分鐘*

*自動觀察模式，掃描范圍1um× 1um ，256×256點陣。操作時長依賴于操作者。

 
傳統(tǒng)的原子力顯微鏡需要人工調(diào)整光路、設(shè)定掃描參數(shù)、進行圖像處理。但是SPM-Nanoa可以幫助用戶毫無壓力地完成這些操作。 
 
 
 

 
 

性能優(yōu)異
從光學顯微鏡到SPM/AFM，各模式下均可清晰地捕捉圖像

利用光學顯微鏡搜索目標區(qū)域，利用SPM可以方便地進行高分辨率觀察。利用與表面形狀圖像相同的視場可以獲得其他物理特性信息。

樣品：硅基底上的二氧化硅圖案 

 
 
 

豐富多樣的掃描模式

從形貌觀察到基于力曲線測量的物性分析，支持廣泛的掃描模式。這意味著可以兼顧高分辨率與物性測試。 

形貌接觸模式、動態(tài)模式
機械性能相位模式、側(cè)向力模式、力調(diào)制模式、Nano 3D Mapping Fast *
電磁學電流模式* 、磁力模式* 、表面電勢模式* 、壓電力模式* 、STM *
納米加工矢量掃描模式*
環(huán)境支持液體環(huán)境*
 

搜尋目標區(qū)域更容易

利用清晰地光學顯微鏡圖像，可以輕松找到目標區(qū)域，不用擔心振動的影響。

SPM-Nanoa集成了一體式高性能光學顯微鏡。

 

樣品視野

 

使用集成光學顯微鏡，樣品表面的3um間隔圖案清晰可見。

 
 

高分辨觀察表面物性

極軟樣品的變形或樣品局部的機械及電氣性能的差異，都可以獲得高分辨率的觀測圖像。

用表面電勢模式觀察云母基底上的金納米顆粒

 
該圖顯示了0.2um范圍內(nèi)的表面電勢（右）和形貌圖像（左）
 
 

8K成像助力大范圍高分辨掃描

可支持8K（81929192）掃描點陣，大范圍區(qū)域的小細節(jié)也纖毫畢現(xiàn)。

觀察金屬蒸鍍膜

 
 
 
 

省時高效

支持功能功能模式高速觀察

通過高速觀察和物性高速成譜功能，顯著減少了觀測時間。

探針更換工具和樣品更換機構(gòu)有效縮短了掃描準備時間。

三個獨特設(shè)計極大縮短了觀測時間。 
 
 

高通量觀測
高速物性成譜

簡便順滑地樣品更換

便捷更換探針

 
 
 
 

高通量觀測
高速物性成譜

采用了可實現(xiàn)高速響應(yīng)的HT掃描器并優(yōu)化了控制算法，從而大幅縮短了觀察和物性成像的數(shù)據(jù)獲取時間

簡便順滑地樣品更換
高速物性成譜

一鍵式操作實現(xiàn)自動開啟、關(guān)閉平臺，放置和取出樣品。
由于固定了激光的照射位置，所以在樣品更換后可立即進行觀察。

 

 
 

探針更換簡單且可靠   

僅需將探針放置在指定的位置，并使其沿著導軌滑動即可安裝，即使操作人員不習慣使用鑷子，也能夠簡單準確地進行操作。

 


 

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